1.大(dà)規模模組老化測試系統是通(tōng)過Keithley37大也06A數據采集系統采集矽光電二極管的 光電流/少制光電壓從而得(de)到AMOLED模組相對亮度的變化過程水土,可在單個模組或屏體 上增加多個矽光電二極管來實現多個位置的亮度老化監控;支持草月圖片自定義切換, 支持RGBW等多種Pattern的老上師化性能測試分析;
2.該方案非常适合于大(dà)規模的模組老化測試,最大(dà)可支持250個化來模組同時(shí)老化測試; 同時(shí)可集成箱體溫控功能,讀亮實現高溫加速老化測試。