Oled 模組批量老化設備

1.大(dà)規模模組老化測試系統是通(t什是ōng)過Keithley3706A數據采集系統采集矽光如筆電二極管的 光電流/光電壓從而得(de)到AMOLED模組相對低路亮度的變化過程，可在單個模組或屏體 上增加多個矽光電二極管來實現多個市紅位置的亮度老化監控；支持圖片自定義切換，放錢 支持RGBW等多種Pattern的老化性能測試分析；
2.該方案非常适合于大(dà)規模的模組老化測試，最大(dà)可支持250個些森模組同時(shí)老化測試； 同時(shí)可什黃集成箱體溫控功能，實現高溫加速老化測試。