1.大(dà)規模模組老化測試系統是通(tōng)過Ke場你ithley3706A數據采集系統采集矽光電二極管的 光上鐵電流/光電壓從而得(de)到AMOLED模組相對亮度的變化過程,可外答在單個模組或屏體 上增加多個矽光電二極管來實現多個位置的亮個服度老化監控;支持圖片自定義切換, 支持RGBW等多種Pattern的老化性能火吧測試分析;
2.該方案非常适合于大(dà)規模的模組老化測試,最大(d微子à)可支持250個模組同時(shí)老化測試; 同時(shí)可集成箱林道體溫控功能,實現高溫加速老化測試。