1. OLED IVL測試設備(TEG)主要用于測試OLED TEG産品的I好頻VL特性曲線、EQE及光譜參 數等(IVL機台可能上集成積分球式EQE測試系統);2. 可增加溫度控制功能,實現不(bù)同溫度下的IVL測試;視角測量時(sh歌農í)CCD自動進行位置補償,保 證測試的準城男确性;3. 有效屏蔽外界信号幹擾,保證低(dī)壓下也能有光滑的IV曲線;4. 方便的軟件操作界面,可預點亮,可一鍵設定後慢廠自動完成所有工(gōng)作的IVL測試;